Atomic Force Microscope

Descripción del producto

1. 光机电一体化设计，外形结构简单；
2. 扫描探头和样品台集成一体，抗干扰能力强；
3. 精密激光检测及探针定位装置，光斑调节简单，操作方便；
4. 采用样品趋近探针方式，使针尖垂直于样品扫描；
5. 伺服马达手动或自动脉冲控制，驱动样品垂直接近探针，实现扫描区域精确定位；
6. 高精度大范围的样品移动装置，可自由移动感兴趣的样品扫描区域；
7. 高精度大范围的压电陶瓷扫描器，根据不同精度和扫描范围要求选择；
8. 自由变倍的CCD观测系统，实时观测与定位探针扫描样品区域；
9. 采用伺服马达控制CCD对焦和光学放大；
*0. 模块化的电子控制系统设计，便于电路的持续改进与维护；
*1. 集成多种扫描工作模式控制电路，配合软件系统使用。