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Double Beam UV-Vis Spectrophotometer

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China

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JK-UVS-760CRT

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Shanghai Jingke Scientific Instrument Co., Ltd.

China

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Persona de contacto Bella

Room A304, No.189, Xinjunhuan Road, Minhang District, Shanghai

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Especificaciones del producto

Descripción del producto

Metering mode: Double-beam C-t optical structure, blazed holographic grating, photomultiplier tube detection

Wavelength range:**0nm****0nm

Resolution:better than 0.*5nm

Spectro bandwidth:1.8nm

Wavelength accuracy:±0.3nm(with automatic wavelength calibration device.)

Wavelength accuracy:<0.2nm

Stray light:Better than 0.*5%(**0nm,Nal)

Metering accuracy:±0.3%(with NBS**0D)

Metering repeatability:0.2nm

Wavelength scanning speed::Fastã€Normalã€slow

Transmittance accuracy:Better than ±0.3%(t)(with NBS**0 )

Stability:≤±0.**4A/*0min

Dimension: **0mm×**0mm×**0mm(W×D×H)

Power supply voltage:AC**0V±*2V;frequency *0Hz±1Hz supply voltage for foreign products can be customized according to customer’s needs)

Weight:*5kg

País:	China
N º de Modelo:	JK-UVS-760CRT
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